 | 芯片檢查顯微鏡8XB | 8XB正置(明暗場)芯片檢查顯微鏡 ■產品用途 正置(明暗場)芯片檢查顯微鏡廣泛的應用于透明,半透明或不透明物質,比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體 |
 | 大平臺檢測顯微鏡7XB-PC | 7XB-PC檢測金相顯微鏡 ■產品用途 大平臺檢測顯微鏡是專為IT行業大面積集成電路,晶片的質量檢測而設計開發制造的,主體為正置式,三目鏡筒,比傳統的顯微鏡更適合于觀察。適用于電子、機 |
 | 正置檢測顯微鏡7XB | 7XB檢測金相顯微鏡 ■產品用途 大平臺檢測顯微鏡是專為IT行業大面積集成電路,晶片的質量檢測而設計開發制造的,主體為正置式,三目鏡筒,比傳統的顯微鏡更適合于觀察。適用于電子、機械、化 |
共1頁 第1頁 首頁 上一頁 下一頁 尾頁 共3條 |
|